Hopp til innhold Hopp til hovedmeny

Multiscale modelling of vacancy-related defects in stress-free and strained Si and Si/Si‹xGex heterostructures

Svetlana Nicolaysen

Ledig

  • Automatlager: 1 av 1 ledig
Logg inn for flere valg
Henter eksemplarliste...
Fakta
Laster innhold...