Hopp til innhold Hopp til hovedmeny

Exploring the SEU dependence on supply voltage scaling in 90 nm and 65 nm CMOS flip-flops

Amir Hasanbegović

Ledig

  • Automatlager: 2 av 3 ledig
Logg inn for flere valg
Henter eksemplarliste...
Fakta
Laster innhold...