*001858052
*00520250613134537.0
*007ta
*008151016s1993    no            000 0 eng
*00901318cam a2200313 c 4500
*019  $bl
*020  $a8271194739
*035  $a(EXLNZ-47BIBSYS_NETWORK)999304605614702201
*035  $a(NO-LaBS)14270881(bibid)
*035  $a(NO-TrBIB)930460561
*035  $a930460561-47bibsys_network
*040  $aNO-OsNB$bnob$ekatreg
*080  $a681.785.3
*1001 $aWold, Erik$d1962-$0(NO-TrBIB)90550493$_13213300
*24510$aSpectroscopic infrared ellipsometry :$bMueller analysis and measurements$cby Erik Wold
*260  $aTrondheim$bNorwegian Institute of Technology, Faculty of Physics and Mathematics$c1993
*300  $avi, 207 s.$bfig.
*4901 $aDoktor ingeniøravhandling$v1993:18
*500  $aPå omslaget: Institutt for fysikk
*502  $aAvhandling (dr. ing.) - Norges tekniske høgskole, 1993
*533  $aElektronisk reproduksjon$b[Norge]$cNasjonalbiblioteket Digital$d2017-01-06
*650 7$aEllipsometri$2tekord$_188290400
*653  $adoktoringeniør$afysikk$aoptikk$_23485200
*7102 $aNorges tekniske høgskole$bInstitutt for fysikk$0(NO-TrBIB)90304419$_20692600
*830 0$aDoktor ingeniøravhandling (Trondheim : trykt utg.)$x0809-103x$v1993:18$w998711741544702201$_13104400
*85641$3Fulltekst$uhttps://urn.nb.no/URN:NBN:no-nb_digibok_2017010648107$yNettbiblioteket$zDigital representasjon
*901  $a80
*917  $ad
*999  $aoai:nb.bibsys.no:999304605614702202$b2021-11-14T20:54:36Z$z999304605614702202
^