*001415395
*00520250613135949.0
*007cr
*007ta
*008110831s1995    no            000 0 nob
*00901175cam a2200289 c 4500
*019  $bl
*020  $z8259586480
*035  $a(EXLNZ-47BIBSYS_NETWORK)999516996794702201
*035  $a(NO-LaBS)13950416(bibid)
*035  $a(NO-TrBIB)111538106
*035  $a(NO-TrBIB)951699679
*035  $a951699679-47bibsys_network
*040  $aNO-OsNB$bnob$ekatreg
*080  $a620.187
*1001 $aLeinum, John Rasmus$d1967-$0(NO-TrBIB)90634631$_62225700
*24510$aBrukerveiledning for partikkelanalyse i scanning elektron mikroskop$cJohn Rasmus Leinum og Trond Furu
*260  $aTrondheim$bSINTEF, Materialteknologi$c1995
*300  $a33 bl.$bill.
*4901 $aSINTEF rapport / SINTEF, Materialteknologi$vSTF24 A95509
*533  $aElektronisk reproduksjon$b[Norge]$cNasjonalbiblioteket Digital$d2011-01-24
*650 7$aMetallografi$xElektronmikroskopi$2tekord$_189608400
*7001 $aFuru, Trond$d1961-$0(NO-TrBIB)90517159$_76480600
*830 0$aSINTEF report (SINTEF. Materialteknologi : trykt utg.)$vSTF24 A95509$w999500430954702201$_13213700
*85641$3Fulltekst$uhttps://urn.nb.no/URN:NBN:no-nb_digibok_2011012408007$yNettbiblioteket$zDigital representasjon
*901  $a80
*999  $aoai:nb.bibsys.no:999516996794702202$b2021-11-14T20:19:08Z$z999516996794702202
^