*001363764
*00520250613133556.0
*007cr
*007ta
*008110110s1990    no            000 u nob
*00901061cam a2200277 c 4500
*019  $bl
*020  $a8259560054
*035  $a(EXLNZ-47BIBSYS_NETWORK)999100618744702201
*035  $a(NO-LaBS)13466219(bibid)
*035  $a(NO-TrBIB)110556267
*035  $a(NO-TrBIB)910061874
*035  $a910061874-47bibsys_network
*040  $aNO-OsNB$bnob$ekatreg
*080  $a537.533.35
*1001 $aMarthinsen, Knut$0(NO-TrBIB)90095306$_37051300
*24510$aSimulering av høyoppløsning elektronmikroskopibilder fra halvledere$cKnut Marthinsen
*260  $aTrondheim$bSINTEF, Anvendt fysikk$c1990
*300  $a33 bl.$bill.
*4901 $aSINTEF rapport$vSTF19 A90019
*533  $aElektronisk reproduksjon$b[Norge]$cNasjonalbiblioteket Digital$d2011-01-06
*650 7$aElektronmikroskopi$2tekord$_187335500
*830 0$aSINTEF rapport (SINTEF. Målefysisk laboratorium : trykt utg.)$vSTF19 A90019$w998110210764702201$_14526900
*85641$3Fulltekst$uhttps://urn.nb.no/URN:NBN:no-nb_digibok_2011010609038$yNettbiblioteket$zDigital representasjon
*901  $a80
*999  $aoai:nb.bibsys.no:999100618744702202$b2021-11-14T20:14:37Z$z999100618744702202
^